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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Design For Manufacturability And Statistical Design
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Design for Manufacturability and Statistical Design
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 328.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Design for Manufacturability and Statistical Design
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 89,90
Spedizione EUR 7,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 328 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Design For Manufacturability And Statistical Design: A Constructive Approach
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Design for Manufacturability and Statistical Design
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 89,76
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 328.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Prima edizione
EUR 59,95
Spedizione EUR 39,90
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. 1. Auflage. unread, mimimum of shelfwear.
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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach (Integrated Circuits and Systems)
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach (Integrated Circuits and Systems)
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,94
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach (Integrated Circuits and Systems)
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,94
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 191,74
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design for Manufacturability and Statistical Design
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 332.
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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach (Series on Integrated Circuits and Systems)
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 238,63
Spedizione EUR 14,70
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 310 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach (Integrated Circuits and Systems)
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 238,58
Spedizione EUR 29,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 258,45
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Offers analyses of run-to-run (R2R) control. Through manufacturing case studies, this book provides justification for and demonstrates the benefits of run-to-run control, and offers the know-how and direction for incorporating R2R control into readers' manufacturing capabilities. Editor(s): Moyne, James; del Castillo, Enrique; Hurwitz, A.M. Num Pages: 368 pages, 27 black & white tables. BIC Classification: TGP; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 158 x 22. Weight in Grams: 630. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Machine Learning In Vlsi Computer-aided
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 256,40
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Machine Learning In Vlsi Computer-Aided Desig
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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EUR 219,37
Spedizione EUR 66,13
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides readers with an up-to-date account of the use of machine learning frameworks, methodologies, algorithms and techniques in the context of computer-aided design (CAD) for very-large-scale integrated circuits (VLSI). Coverage includes the various machine learning methods used in lithography, physical design, yield prediction, post-silicon performance analysis, reliability and failure analysis, power and thermal analysis, analog design, logic synthesis, verification, and neuromorphic design. Provides up-to-date information on machine learning in VLSI CAD for device modeling, layout verifications, yield prediction, post-silicon validation, and reliability;Discusses the use of machine learning techniques in the context of analog and digital synthesis;Demonstrates how to formulate VLSI CAD objectives as machine learning problems and provides a comprehensive treatment of their efficient solutions;Discusses the tradeoff between the cost of collecting data and prediction accuracy and provides a methodology for using prior data to reduce cost of data collection in the design, testing and validation of both analog and digital VLSI designs.From the Foreword As the semiconductor industry embraces the rising swell of cognitive systems and edge intelligence, this book could serve as a harbinger and example of the osmosis that will exist between our cognitive structures and methods, on the one hand, and the hardware architectures and technologies that will support them, on the other.As we transition from the computing era to the cognitive one, it behooves us to remember the success story of VLSI CAD and to earnestly seek the help of the invisible hand so that our future cognitive systems are used to design more powerful cognitive systems. This book is very much aligned with this on-going transition from computing to cognition, and it is with deep pleasure thatI recommend it to all those who are actively engaged in this exciting transformation.Dr. Ruchir Puri, IBM Fellow, IBM Watson CTO & Chief Architect, IBM T. J. Watson Research Center.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 312,38
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 718 pages. 9.25x6.10x1.89 inches. In Stock.
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Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Offers analyses of run-to-run (R2R) control. Through manufacturing case studies, this book provides justification for and demonstrates the benefits of run-to-run control, and offers the know-how and direction for incorporating R2R control into readers' manufacturing capabilities. Editor(s): Moyne, James; del Castillo, Enrique; Hurwitz, A.M. Num Pages: 368 pages, 27 black & white tables. BIC Classification: TGP; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 158 x 22. Weight in Grams: 630. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Machine Learning In Vlsi Computer-aided
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Design for Manufacturability and Statistical Desig
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 127,63
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,29
Spedizione EUR 11,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Unified Treatment of Data Collection, Modeling, and Statistical CADCovers From Fabrication to Design to CADDeals With the Extraction of Fab Information into distrubutions for analysisCircuit Structures and Techniques to Reduce On-Chi.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Unified Treatment of Data Collection, Modeling, and Statistical CADCovers From Fabrication to Design to CADDeals With the Extraction of Fab Information into distrubutions for analysisCircuit Structures and Techniques to Reduce On-Chi.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030046656 ISBN 13: 9783030046651
EUR 175,51
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides up-to-date information on machine learning in VLSI CAD for device modeling, layout verifications, yield prediction, post-silicon validation, and reliability Discusses the use of machine learning techniques in the context of analog and di.
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Design for Manufacturability and Statistical Design
Libro 10 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 228,80
Spedizione EUR 7,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 332 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2019, 2019
ISBN 10: 3030046656 ISBN 13: 9783030046651
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 213,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides readers with an up-to-date account of the use of machine learning frameworks, methodologies, algorithms and techniques in the context of computer-aided design (CAD) for very-large-scale integrated circuits (VLSI). Coverage includes the various machine learning methods used in lithography, physical design, yield prediction, post-silicon performance analysis, reliability and failure analysis, power and thermal analysis, analog design, logic synthesis, verification, and neuromorphic design. Provides up-to-date information on machine learning in VLSI CAD for device modeling, layout verifications, yield prediction, post-silicon validation, and reliability;Discusses the use of machine learning techniques in the context of analog and digital synthesis;Demonstrates how to formulate VLSI CAD objectives as machine learning problems and provides a comprehensive treatment of their efficient solutions;Discusses the tradeoff between the cost of collecting data and prediction accuracy and provides a methodology for using prior data to reduce cost of data collection in the design, testing and validation of both analog and digital VLSI designs.From the Foreword As the semiconductor industry embraces the rising swell of cognitive systems and edge intelligence, this book could serve as a harbinger and example of the osmosis that will exist between our cognitive structures and methods, on the one hand, and the hardware architectures and technologies that will support them, on the other.As we transition from the computing era to the cognitive one, it behooves us to remember the success story of VLSI CAD and to earnestly seek the help of the invisible hand so that our future cognitive systems are used to design more powerful cognitive systems. This book is very much aligned with this on-going transition from computing to cognition, and it is with deep pleasure thatI recommend it to all those who are actively engaged in this exciting transformation.Dr. Ruchir Puri, IBM Fellow, IBM Watson CTO & Chief Architect, IBM T. J. Watson Research Center 716 pp. Englisch.
