Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
EUR 68,33
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Condizione: New. pp. 154.
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
EUR 67,33
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
EUR 71,28
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
EUR 100,86
Quantità: 10 disponibili
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EUR 69,16
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
EUR 115,52
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
EUR 115,52
Quantità: Più di 20 disponibili
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
EUR 113,56
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Da: Buchpark, Trebbin, Germania
EUR 26,21
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Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
Da: Buchpark, Trebbin, Germania
EUR 27,02
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Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
EUR 132,60
Quantità: 15 disponibili
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Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Ltd Jun 2020, 2020
ISBN 10: 0367573555 ISBN 13: 9780367573553
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
EUR 85,58
Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device-circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.
Condizione: New.
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
EUR 145,20
Quantità: 15 disponibili
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Condizione: New.
Da: preigu, Osnabrück, Germania
EUR 95,15
Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. VLSI Design and Test | 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811074691 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Da: preigu, Osnabrück, Germania
EUR 95,15
Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. VLSI Design and Test | 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers | Ambika Prasad Shah (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9783031215131 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
EUR 157,31
Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 614 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock.
Condizione: New.
Da: preigu, Osnabrück, Germania
EUR 102,35
Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. VLSI Design and Test | 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers | Anirban Sengupta (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789813297661 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2018
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
EUR 160,81
Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. revised edition. 840 pages. 9.25x6.10x1.73 inches. In Stock.
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
EUR 114,36
Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
EUR 116,27
Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.