Fey goerschwin (46 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
Serie: Universitext, Libro 137 di 261. Libro 137 di 261 - Universitext
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
Serie: Universitext, Libro 137 di 261. Libro 137 di 261 - Universitext
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting…the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the cor…rect relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Robustness and Usability in Modern Design Flows | Görschwin Fey (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048176625 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The size of technically producible integrated circuits increases continuously. But the ability to design and verify these circuits does not keep up with this development. Therefore, today's design ow has to be improved to achieve a higher productivity. I…n this book the current design methodology and ver- cation methodology are analyzed, a number of de ciencies are identi ed, and solutions are suggested. Improvements in the methodology as well as in the underlying algorithms are proposed. An in-depth presentation of preliminary concepts makes the book self-contained. Based on this foundation major - sign problems are targeted. In particular, a complete tool ow for Synthesis for Testability of SystemC descriptions is presented. The resulting circuits are completely testable and test pattern generation in polynomial time is possible. Veri cation issues are covered in even more detail. A whole new paradigm for formal design veri cation is suggested. This is based upon design und- standing, the automatic generation of properties, and powerful tool support for debugging failures. All these new techniques are empirically evaluated and - perimental results are provided. As a result, an enhanced design ow is created that provides more automation (i.e. better usability) and reduces the probability of introducing conceptual errors (i.e. higher robustness). Acknowledgments We would like to thank all members of the research group for computer arc- tecture in Bremen for the helpful discussions and the great atmosphere during work and research.
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf, Eggersglüß, Stephan, Fey, Görschwin, Tille,
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Da: Rarewaves USA, OSWEGO, IL, U.S.A.Rarewaves USA
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Paperback. Condizione: New. Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise z…u garantieren, ist das Ziel des Testens - und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.
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Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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