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Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesEUR 84,29
Spedizione EUR 20,99
Spedito da Repubblica Ceca a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Fine. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Abnutzung / Risse - leicht; Gebrochener Buchrücken / Seiten oder Softcover umgeknickt. This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume "Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces," presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,97
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 136,63
Spedizione EUR 2,30
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,21
Spedizione EUR 17,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642271138 ISBN 13: 9783642271137
EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642225659 ISBN 13: 9783642225659
EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 348.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,43
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 348.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences)
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 152,99
Spedizione EUR 14,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2012 edition. 290 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. In Stock.
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Kelvin Probe Force Microscopy | Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesEUR 95,15
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | Measuring and Compensating Electrostatic Forces | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Surface Sciences | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642271137 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,45
Spedizione EUR 14,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 2012 edition. 345 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesEUR 106,99
Spedizione EUR 62,64
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesEUR 106,99
Spedizione EUR 63,44
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 194,61
Spedizione EUR 17,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,04
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,04
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In English.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 185,13
Spedizione EUR 28,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences (48))
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 183,94
Spedizione EUR 28,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 217,96
Spedizione EUR 2,30
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin probe force microscopy. From single charge detection to device characterization.
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 197,50
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. xxiv, 521 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16212 9783319756868 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesEUR 202,80
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030092986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization: 65 (Springer Series in Surface Sciences)
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
