J giber (40 risultati)
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Editore: National Academy Press, Washingdon D. C., 1997
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New Developments in Semiconductor Physics: Proceedings of the International Summer School Held in Szeged, Hungary, July 1 - 6, 1979
Beleznay, F. (Editor)/ Ferenczi, G. (Editor)/ Giber, J. (Editor)
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Low temperature photo- and magneto-transport involving impurity-phonon resonances in semiconductors.- Optically detected magnetic resonance studies of semiconductors.- Deep level spectroscopy in semicounductors by optical excitation.- Depleted lay…er spectroscopy.- Luminescence of chromium in gallium arsenide.- Analysis of defect states by transient capacitance methods in proton bombarded gallium arsenide at 300 K and 77 K.- Properties of an extended defect in GaAs.62P.38.- Large defect-lattice relaxation phenomena in solids.- Temperature dependent decay of a metastable state of systems with large impurity-lattice relaxation (CdF2 : In).- Electron-phonon interaction: Polaron transport.- Stress dependence of quantum limit hall effect and transverse magnetoresistance in n-InSb.- Photoluminescence in amorphous semiconductors.- Man-made semiconductor superlattices.- The localized states of interfaces and their physical models.- Cyclic cluster model (CCM) in the CNDO approximation for deep levels in covalent solids.- Is there a minimum linewidth in integrated circuits .
Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 292 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Defect Complexes in Semiconductor Structures: Proceedings of the International School Held in Mátrafuered, Hungary, September 13 17, 1982 (Lecture Notes in Physics)
Giber, J. (Editor) / Beleznay, F. (Editor) / Szep, I. C. (Editor) / Laszlo, J. (Editor)
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - A technologist's view on defects.- Characterization of impurities and defects by electron paramagnetic resonance and related techniques.- Review of the possibilities of electron microscopy in the identification of defect structures.- Electrical an…d optical measuring techniques for flaw states.- Theory of defect complexes.- Critical comparison of the theoretical models for anomalous large lattice relaxation in III-V compounds.- Vacancy related structure defects in SiO2 - Cyclic cluster calculations compared with experimental results.- A new model for the Si-A center.- Defect complexing in iron-doped silicon.- Photoluminescence of defect complexes in silicon.- Electron microscopical analysis of the stacking fault behaviour in inert-gas annealed Czochralski silicon.- Oxygen precipitation and the generation of secondary defects in oxygen-rich silicon.- Electrical and optical properties of oxygen-related donors in silicon formed at temperatures from 600 to 850 °c.- On the field dependence of capture and emission processes at deep centres.- Lattice matched heterolayers.- Compositional transition layers in heterostructure.- Defect complexes in III-V compounds.- Low frequency current oscillations due to electron retrapping by the AsGa antisite defect in GaAs.- Main electron traps in gaas: Aggregates of antisite defects.- Defect reactions in gap caused by zinc diffusion.- Nonstatistical defect surroundings in mixed crystals - the selfactivated luminescence centre in ZnSxSe1-x.- Structure and properties of the Si-SiO2 interregion.- Radiation defects of the semiconductor-insulator interface.- Analysis of Si/SiO2 interface defects by the method of term spectroscopy.- Theoretical aspects of laser annealing.- Radiation methods for creation of heterostructures on silicon.-Ion beam gettering in GaP.- Panel discussion.- Mechanical stress induced defect creation in GaP.
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 320 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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gebundene Ausgabe. Condizione: Sehr gut. 8°, XI, 444 Seiten mit 289 Figuren, farbig betitelter Original-Pappeinband - sehr guter Zustand - 1982. b31807 ISBN: 354011372x Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 850.
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Paperback. Condizione: Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School held in Mátrafüred, Hungary .,.,.
Giber, J. ; Beleznay, F. ; Szép, I. C. ; & László, J. ; editors :
Editore: Springer-Verlag, Berlin / Heidelberg, 1983
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Da: Expatriate Bookshop of Denmark/John Jackson Books, Svendborg, DanimarcaExpatriate Bookshop of Denmark/John Jackson Books
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orig. wrappers. Condizione: Minor wear. VG. 24x16cm, vi,307 pp., Series: Lecture Notes in Physics, 175. Full title reads: "Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School held in Mátrafüred, Hungary September 1317, 1982".
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paperback. Condizione: New. Paperback. Pub Date: 2013 Pages: 332 Language: Chinese in Publisher: Publishing House of Electronics Industry leadership development best practices manual: Case. tools and training methods (2nd edition) Based on Linkage company long-term leadership development research and consulting practice. on the…field of leadership development proven guiding principles. tools. models and theories of the sort contains a real case of well-known enterprises from Dell. Bank of America. PricewaterhouseCoopers.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Low temperature photo- and magneto-transport involving impurity-phonon resonances in semiconductors.- Optically detected magnetic resonance studies of semiconductors.- Deep level spectroscopy in semicounductors by optical excitatio…n.- Depleted layer spectroscopy.- Luminescence of chromium in gallium arsenide.- Analysis of defect states by transient capacitance methods in proton bombarded gallium arsenide at 300 K and 77 K.- Properties of an extended defect in GaAs.62P.38.- Large defect-lattice relaxation phenomena in solids.- Temperature dependent decay of a metastable state of systems with large impurity-lattice relaxation (CdF2 : In).- Electron-phonon interaction: Polaron transport.- Stress dependence of quantum limit hall effect and transverse magnetoresistance in n-InSb.- Photoluminescence in amorphous semiconductors.- Man-made semiconductor superlattices.- The localized states of interfaces and their physical models.- Cyclic cluster model (CCM) in the CNDO approximation for deep levels in covalent solids.- Is there a minimum linewidth in integrated circuits . 292 pp. Englisch.
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