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pietsch ullrich (36 risultati)
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 25,50
EUR 16,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Zwischen Vergessen und Erinnerung - Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel.
Da: KULTur-Antiquariat, Boizenburg, MV, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 9,60
EUR 17,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloGebundene Ausgabe. Condizione: Gut. 96 Seiten, bebildert. Einband leicht berieben, ansonsten gut erhalten. ISBN: 9783000084423 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 51,72
EUR 13,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In English.
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 25,70
EUR 40,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Hardcover. Condizione: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Editore: Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
Lingua: Tedesco
EUR 9,00
EUR 20,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellokartonierte Ausgabe. Condizione: Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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EUR 43,21
EUR 29,90 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. 2. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,00
EUR 6,68 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 72,55
EUR 17,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 73,99
EUR 17,07 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 92,75
EUR 13,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 92,87
EUR 17,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: BennettBooksLtd, San Diego, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,67
EUR 3,47 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,78
EUR 13,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 142,28
EUR 14,23 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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EUR 85,20
EUR 70,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2011 | Springer US | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Editore: Springer New York, Springer US Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Lingua: Inglese
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,29
EUR 60,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 428 pp. Englisch.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 145,34
EUR 17,07 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 135,98
EUR 28,45 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Editore: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Lingua: Inglese
EUR 100,94
EUR 63,23 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 246,16
EUR 28,45 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. Ships from Multiple Locations. book.
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Ein fein Bergmannig Porcelan: Abbilder vom Bergbau in "Weissem Gold" (Veröffentlichungen aus dem Deutschen Bergbau-Museum)
Da: Antiquariat Kastanienhof, Pirna, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 19,00
EUR 84,86 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Sehr gut. 28,19 x 22,86 x 2,54 Gebundene Ausgabe, SEHR GUTES EXEMPLAR--- Für Ihre Zufriedenheit versenden wir mit DHL und ausschließlich mit Trackingcode für eine sichere Sendungsverfolgung! Weitere Angebote unter antiquariat-kastanienhof , 365 Seiten. nein.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
PAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,27
EUR 5,71 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
