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pietsch ullrich (30 risultati)
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![Immagine del venditore per Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3 venduto da ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31296753760.jpg)
Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3
Da: ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS, Lübeck, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 7,00
Spedizione EUR 22,13
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloGr.-8° Gebundene Ausgabe. Condizione: Neu. Pietsch, Jürgen M (illustratore). 1. Auflage. 96 Seiten Gebundenes Buch. Buch ist neu, aus priv. Vorbesitz. original eingeschweisst. ISBN: 9783000084423 Wir senden umgehend mit beiliegender MwSt.Rechnung. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 561.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,67
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,74
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Libro 59 di 227: Springer Tracts in Modern PhysicsDa: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 25,70
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,42
Spedizione EUR 13,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In English.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Lingua: Tedesco
Editore: Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
EUR 9,00
Spedizione EUR 20,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellokartonierte Ausgabe. Condizione: Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,41
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 31,48
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,40
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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![Immagine dell'editore per High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo venduto da SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780387400921-it-300.jpg)
EUR 42,34
Spedizione EUR 39,90
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. 2. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 97,12
Spedizione EUR 13,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 94,38
Spedizione EUR 17,92
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,81
Spedizione EUR 13,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 141,91
Spedizione EUR 14,46
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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EUR 84,50
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | Advanced Texts in Physics | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 138,19
Spedizione EUR 28,91
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
EUR 100,94
Spedizione EUR 63,23
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York Aug 2004, 2004
ISBN 10: 0387400923 ISBN 13: 9780387400921
EUR 190,26
Spedizione EUR 64,19
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Libro 59 di 227: Springer Tracts in Modern PhysicsDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 250,17
Spedizione EUR 28,91
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Ein fein Bergmannig Porcelan: Abbilder vom Bergbau in "Weissem Gold" (Veröffentlichungen aus dem Deutschen Bergbau-Museum)
Da: Antiquariat Kastanienhof, Pirna, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 19,00
Spedizione EUR 84,86
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Sehr gut. 28,19 x 22,86 x 2,54 Gebundene Ausgabe, SEHR GUTES EXEMPLAR--- Für Ihre Zufriedenheit versenden wir mit DHL und ausschließlich mit Trackingcode für eine sichere Sendungsverfolgung! Weitere Angebote unter antiquariat-kastanienhof , 365 Seiten. nein.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,04
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,98
Spedizione EUR 5,81
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 78,24
Spedizione EUR 6,80
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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High-Resolution X-Ray Scattering
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,29
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers. 428 pp. Englisch.
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EUR 81,44
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 136,87
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 428 241 Illus.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,02
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,29
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 428 pp. Englisch.
