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Materials and Devices for Endo
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, GB, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 42,49
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, 'Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices', and Symposium J, 'Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling', held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited. Historically, scaling in Si CMOS was primarily led by lithography. In the last decade, this situation has been completely revolutionized with the introduction of the likes of copper interconnects, high-k gate dielectrics, metal gates, and strained silicon to meet the demands of the International Technology Roadmap for Semiconductors as the technology generations were reduced beyond 45 nm. As we look towards the end of the roadmap and beyond, the proliferation of potential solutions to meet the necessary performance challenges becomes truly staggering, and has motivated an exponential increase in research in a wide range of emerging materials and devices architectures.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 42,50
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 36,90
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and beyond CMO's Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 162.
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The Dinner of Love: Would the Dinner of Love deliver on its foreboding?
Editore: Independently published 2021-12, 2021
ISBN 13: 9798757177748
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 10,89
Spedizione EUR 17,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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Materials and Devices for EndofRoadmap and Beyond Cmos Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 71,90
Spedizione EUR 9,22
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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MATERIALS AND DEVICES FOR END-OF-ROADMAP AND BEYOND CMOS SCALING: VOLUME 1252
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Materials and Devices for EndofRoadmap and Beyond Cmos Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 80,41
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, GB, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 38,18
Spedizione EUR 75,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, 'Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices', and Symposium J, 'Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling', held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited. Historically, scaling in Si CMOS was primarily led by lithography. In the last decade, this situation has been completely revolutionized with the introduction of the likes of copper interconnects, high-k gate dielectrics, metal gates, and strained silicon to meet the demands of the International Technology Roadmap for Semiconductors as the technology generations were reduced beyond 45 nm. As we look towards the end of the roadmap and beyond, the proliferation of potential solutions to meet the necessary performance challenges becomes truly staggering, and has motivated an exponential increase in research in a wide range of emerging materials and devices architectures.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,03
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,82
Spedizione EUR 3,50
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-Of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling : Volume 1252
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
EUR 55,07
Spedizione EUR 61,23
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, 'Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices', and Symposium J, 'Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling', held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited. Historically, scaling in Si CMOS was primarily led by lithography. In the last decade, this situation has been completely revolutionized with the introduction of the likes of copper interconnects, high-k gate dielectrics, metal gates, and strained silicon to meet the demands of the International Technology Roadmap for Semiconductors as the technology generations were reduced beyond 45 nm. As we look towards the end of the roadmap and beyond, the proliferation of potential solutions to meet the necessary performance challenges becomes truly staggering, and has motivated an exponential increase in research in a wide range of emerging materials and devices architectures.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 127,49
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 120,52
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 120,51
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,09
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Ramanathan, Shriram; Guha, Supratik; Mannhart, Jochen; Kummel, Andrew C.; Watanabe, Heiji; Thayne, Iain; Majhi, Prashant; Bonafos, Caroline; Fujisaki, Yoshihisa; Dimitrakis, P. Series: MRS Proceedings. Num Pages: Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 15. Weight in Grams: 364. . 2010. hardcover. . . . .
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and beyond CMO's Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press CUP, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. ix + 149.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Vol 1252
Lingua: Inglese
Editore: Materials Research Society, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 165,66
Spedizione EUR 11,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 149 pages. 9.00x6.00x0.25 inches. In Stock.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 172,36
Spedizione EUR 9,22
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Ramanathan, Shriram; Guha, Supratik; Mannhart, Jochen; Kummel, Andrew C.; Watanabe, Heiji; Thayne, Iain; Majhi, Prashant; Bonafos, Caroline; Fujisaki, Yoshihisa; Dimitrakis, P. Series: MRS Proceedings. Num Pages: Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 15. Weight in Grams: 364. . 2010. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 168,26
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 158,72
Spedizione EUR 28,97
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 190,42
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 1605112291 ISBN 13: 9781605112299
EUR 155,64
Spedizione EUR 61,98
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, 'Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices', and Symposium J, 'Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling', held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited. Historically, scaling in Si CMOS was primarily led by lithography. In the last decade, this situation has been completely revolutionized with the introduction of the likes of copper interconnects, high-k gate dielectrics, metal gates, and strained silicon to meet the demands of the International Technology Roadmap for Semiconductors as the technology generations were reduced beyond 45 nm. As we look towards the end of the roadmap and beyond, the proliferation of potential solutions to meet the necessary performance challenges becomes truly staggering, and has motivated an exponential increase in research in a wide range of emerging materials and devices architectures.
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EUR 19,82
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 35,66
Spedizione EUR 11,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 162 pages. 8.90x5.90x0.50 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 41,21
Spedizione EUR 15,12
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and beyond CMO's Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 51,98
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 162.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and beyond CMO's Scaling
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 51,70
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 162.
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Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling: Volume 1252 (Paperback)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10: 1107407982 ISBN 13: 9781107407985
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 44,74
Spedizione EUR 42,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: new. Paperback. This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, 'Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices', and Symposium J, 'Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling', held April 59 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited. Historically, scaling in Si CMOS was primarily led by lithography. In the last decade, this situation has been completely revolutionized with the introduction of the likes of copper interconnects, high-k gate dielectrics, metal gates, and strained silicon to meet the demands of the International Technology Roadmap for Semiconductors as the technology generations were reduced beyond 45 nm. As we look towards the end of the roadmap and beyond, the proliferation of potential solutions to meet the necessary performance challenges becomes truly staggering, and has motivated an exponential increase in research in a wide range of emerging materials and devices architectures. This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, 'Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices', and Symposium J, 'Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling', held April 59 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
