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Digitale Techniek;; van probleemspecificatie tot realisatie: met IEC-symbolen
Editore: Delftse U.M., Delft, 1982
Da: BIBLIOPE by Calvello Books, Oakland, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Paperback. Condizione: Near Fine. First edition. Octavo in red wrappers; 368 pages; 24 cm. Numerous b/w illus. Minor scuffing to spine and spotting to textblock. Else overall, Near Fine.
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EUR 8,76
Spedizione EUR 15,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: good. Befriedigend/Good: Durchschnittlich erhaltenes Buch bzw. Schutzumschlag mit Gebrauchsspuren, aber vollständigen Seiten. / Describes the average WORN book or dust jacket that has all the pages present.
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Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1995
ISBN 10: 0792396588 ISBN 13: 9780792396581
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 32,54
Spedizione EUR 14,42
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
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De Krabbedans: geschiedenis van de stichting, het gebouw en de plaats van de vestiging
Editore: Eindhoven : Stchting De Krabbedans, 1984
ISBN 10: 9090008098 ISBN 13: 9789090008097
EUR 11,00
Spedizione EUR 20,00
Spedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Oorspronkelijk omslag, oblong, circa 29,5x21cm, illustraties in z/w.
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Samengevat VWO Natuurkunde 2e fase: schematisch overzicht van de examenstof
Da: Mooney's bookstore, Den Helder, Paesi Bassi
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 18,27
Spedizione EUR 14,95
Spedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Very good.
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Variations: The Systematic Design of Supports
Da: -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. A copy that has been read, remains in good condition. All pages are intact, and the cover is intact. The spine and cover show signs of wear. Pages can include notes and highlighting and show signs of wear, and the copy can include "From the library of" labels or previous owner inscriptions. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item for full refund. Ships via media mail.
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Digital techniques from problem to circuit
Lingua: Inglese
Editore: Distributed in the USA by Routledge, Chapman, and Hall
ISBN 10: 071313657X ISBN 13: 9780713136579
Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,69
Spedizione EUR 12,27
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Used - Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre.' Ex-library, but has been well cared for. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 155,11
Spedizione EUR 3,37
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 155,45
Spedizione EUR 3,37
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,58
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,96
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Testability Concepts for Digital ICs
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 228.
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Variations: The Systematic Design of Supports
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 188,93
Spedizione EUR 28,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 226,95
Spedizione EUR 28,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 234,08
Spedizione EUR 28,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Samengevat Vwo Natuurkunde (Dutch Edition)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 143,77
Spedizione EUR 28,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 50,25
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Ultrasonography in Ophthalmology 11 | Proceedings of the 11th SIDUO Congress, Capri, Italy, 1986 | J. M. Thijssen (u. a.) | Taschenbuch | 376 S. | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9789401070836 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a.
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Testability Concepts for Digital ICs
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 210,81
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 228 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Testability Concepts for Digital ICs
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 217,51
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 228.
