A p thijssen (27 risultati)
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Condizione: good. Befriedigend/Good: Durchschnittlich erhaltenes Buch bzw. Schutzumschlag mit Gebrauchsspuren, aber vollständigen Seiten. / Describes the average WORN book or dust jacket that has all the pages present.
Editore: Hawaii Institute of Geophysics., 1983
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Editore: Delftse U.M., Delft, 1982
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Da: BIBLIOPE by Calvello Books, Oakland, CA, U.S.A.BIBLIOPE by Calvello Books
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EUR 16,25
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Da: medimops, Berlin, Germaniamedimops
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Da: Bookbot, Prague, Repubblica CecaBookbot
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Softcover. Condizione: Fine. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Gebrochener Buchrücken; Farbtonänderung.
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Da: medimops, Berlin, Germaniamedimops
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Condizione: very good. Gut/Very good: Buch bzw. Schutzumschlag mit wenigen Gebrauchsspuren an Einband, Schutzumschlag oder Seiten. / Describes a book or dust jacket that does show some signs of wear on either the binding, dust jacket or pages.
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Editore: Eindhoven : Stchting De Krabbedans, 1984
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Da: Klondyke, Almere, Paesi BassiKlondyke
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Condizione: Good. Oorspronkelijk omslag, oblong, circa 29,5x21cm, illustraties in z/w.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno UnitoPsychoBabel & Skoob Books
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EUR 33,06
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Hardcover. Condizione: Very Good. No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
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Condizione: Very Good.
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Da: Mooney's bookstore, Den Helder, Paesi BassiMooney's bookstore
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Condizione: Very Good.
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Da: Mooney's bookstore, Den Helder, Paesi BassiMooney's bookstore
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Condizione: Very Good.
Lingua: Inglese
Editore: Distributed in the USA by Routledge, Chapman, and Hall
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Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno UnitoPhatpocket Limited
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Condizione: Good. Used - Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre.' Ex-library, but has been well cared for. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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EUR 166,41
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Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 228.
Variations: The Systematic Design of Supports
Habraken, N. J., Boekholt, J. Th., Thijssen, A. P., Dinjens,
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Ultrasonography in Ophthalmology 11 | Proceedings of the 11th SIDUO Congress, Capri, Italy, 1986 | J. M. Thijssen (u. a.) | Taschenbuch | 376 S. | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9789401070836 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[do…t]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer, 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer US, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styl…es. Thirdly, knowledge of how to create a.
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Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC d…esign styles. Thirdly, knowledge of how to create a.
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Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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