A p thijssen (21 risultati)
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Da: medimops, Berlin, Germaniamedimops
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Condizione: good. Befriedigend/Good: Durchschnittlich erhaltenes Buch bzw. Schutzumschlag mit Gebrauchsspuren, aber vollständigen Seiten. / Describes the average WORN book or dust jacket that has all the pages present.
Editore: Hawaii Institute of Geophysics., 1983
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Da: Eryops Books, Stephenville, TX, U.S.A.Eryops Books
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Editore: Delftse U.M., Delft, 1982
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- Prima edizione
Da: BIBLIOPE by Calvello Books, Oakland, CA, U.S.A.BIBLIOPE by Calvello Books
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EUR 15,96
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Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Near Fine. First edition. Octavo in red wrappers; 368 pages; 24 cm. Numerous b/w illus. Minor scuffing to spine and spotting to textblock. Else overall, Near Fine.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1995
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Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno UnitoPsychoBabel & Skoob Books
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Hardcover. Condizione: Very Good. No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
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Da: Mooney's bookstore, Den Helder, Paesi BassiMooney's bookstore
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EUR 19,49
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Condizione: Very Good.
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Da: Mooney's bookstore, Den Helder, Paesi BassiMooney's bookstore
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Condizione: As New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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EUR 165,25
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Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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EUR 209,37
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Condizione: New. pp. 228.
Variations: The Systematic Design of Supports
Habraken, N. J., Boekholt, J. Th., Thijssen, A. P., Dinjens,
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Altre immagini- Brossura
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Softcover. Condizione: Fine. Abnutzung / Risse - leicht; Gebrochener Buchrücken / Seiten oder Softcover umgeknickt; Vergilbt / ausgeblichen.
Editore: Distributed in the USA by Routledge, Chapman, and Hall
Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno UnitoPhatpocket Limited
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Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Ultrasonography in Ophthalmology 11 | Proceedings of the 11th SIDUO Congress, Capri, Italy, 1986 | J. M. Thijssen (u. a.) | Taschenbuch | 376 S. | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9789401070836 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[do…t]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, 2012
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styl…es. Thirdly, knowledge of how to create a.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, 1995
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC d…esign styles. Thirdly, knowledge of how to create a.
Lingua: Inglese
Editore: Humana, 1995
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of h…ow to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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EUR 216,99
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Condizione: New. Print on Demand pp. 228 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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