Wallis t mitch (23 risultati)
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Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Da: Prior Books Ltd, Cheltenham, Regno UnitoPrior Books Ltd
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press CUP, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Editore: Cambridge University Press, Cambridge, 2017
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Hardcover. Condizione: new. Hardcover. Connect basic theory with real-world applications with this practical, cross-disciplinary guide to radio frequency measurement of nanoscale devices and materials. Learn the techniques needed for characterizing the performance of devices and their constituent building blocks, including semic…onducting nanowires, graphene, and other two dimensional materials such as transition metal dichalcogenides Gain practical insights into instrumentation, including on-wafer measurement platforms and scanning microwave microscopy Discover how measurement techniques can be applied to solve real-world problems, in areas such as passive and active nanoelectronic devices, semiconductor dopant profiling, subsurface nanoscale tomography, nanoscale magnetic device engineering, and broadband, spatially localized measurements of biological materials Featuring numerous practical examples, and written in a concise yet rigorous style, this is the ideal resource for researchers, practicing engineers, and graduate students new to the field of radio frequency nanoelectronics. Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Editore: Cambridge Univ Pr, 2017
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Editore: Cambridge University Press Sep 2017, 2017
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 15 di 20. Libro 15 di 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Buch. Condizione: Neu. Neuware - Connect basic theory with real-world applications with this practical, cross-disciplinary guide to radio frequency measurement of nanoscale devices and materials. - Learn the techniques needed for characterizing the performance of devices and their constituent building blocks, including semicondu…cting nanowires, graphene, and other two dimensional materials such as transition metal dichalcogenides - Gain practical insights into instrumentation, including on-wafer measurement platforms and scanning microwave microscopy - Discover how measurement techniques can be applied to solve real-world problems, in areas such as passive and active nanoelectronic devices, semiconductor dopant profiling, subsurface nanoscale tomography, nanoscale magnetic device engineering, and broadband, spatially localized measurements of biological materials Featuring numerous practical examples, and written in a concise yet rigorous style, this is the ideal resource for researchers, practicing engineers, and graduate students new to the field of radio frequency nanoelectronics.
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Editore: Cambridge Univ Pr, 2017
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