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atomic force microscopy scanning (146 risultati)
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Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 19,32
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 19,33
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 21,72
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
Lingua: Inglese
Editore: U.S.A.: Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. 2nd Edition. REVISED HARDBACK BOOK IN GOOD TO VERY GOOD CONDITION,BOOK IS SLIGHTLY TWISTED.
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EUR 23,65
Spedizione EUR 15,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,800grams, ISBN:019509204X.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition
Lingua: Inglese
Editore: Oxford University Press, New York, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Da: Don's Book Store, Albuquerque, NM, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hard Back. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Revised Edition - Third Printing. 263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanning Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy.
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EUR 24,72
Spedizione EUR 15,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:9780195092042.
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Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 24,32
Spedizione EUR 17,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 26,18
Spedizione EUR 17,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces.
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 18,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrello239 Fig., 7 Tabl., XII, 292 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. NanoScience and Technology. Sprache: Englisch.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (E.L.B.a Forum)
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Fine. 464 pp., Hardcover, fine. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,58
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (E.L.B.a Forum)
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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EUR 27,53
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 210 pp., Hardcover, ex library, else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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EUR 92,50
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Atomic force microscopy | Scanning probe microscopy, Scanning tunneling microscope, Heinrich Rohrer, IBM Research - Zurich, Piezoelectricity, Nanometre | Frederic P. Miller (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2026 | OmniScriptum | EAN 9786132722157 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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EUR 95,15
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 | Marcia L. Lightbody (u. a.) | Taschenbuch | viii | Englisch | 2013 | Springer US | EAN 9781475781847 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 169,82
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,49
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,48
Spedizione EUR 17,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (E.L.B.a Forum)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 68,32
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 468 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The first U. S. Army Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium was held on lune 8-10, 1993 in Natick, Massachusetts. This book represents the compilation of the papers presented at the meeting. The purpose ofthis symposium was to provide a forum where scientists from a number of diverse fields could interact with one another and exchange ideas. The various topics inc1uded application of AFM/STM in material sciences, polymers, physics, biology and biotechnology, along with recent developments inc1uding new probe microscopies and frontiers in this exciting area. The meeting's format was designed to encourage communication between members of the general scientific community and those individuals who are at the cutting edge of AFM, STM and other probe microscopies. It immediately became clear that this conference enabled interdisciplinary interactions among researchers from academia, industry and government, and set the tone for future collaborations. Expert scientists from diverse scientific areas including physics, chemistry, biology, materials science and electronics were invited to participate in the symposium. The agenda of the meeting was divided into three major sessions. In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces.
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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 177,40
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, Springer New York, 2013
ISBN 10: 1475781849 ISBN 13: 9781475781847
EUR 112,77
Spedizione EUR 62,12
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The Foundation for Advances in Medicine and Science (FAMS), the organizers of SCANNING 98, sponsored its third annual Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy Symposium at the Omni Inner Harbor Hotelin Baltimore, Maryland, from May 9 to 12, 1998. This book represents the compilation of papers that were presented at the AFM/STM Symposium as well as a few that were presented at SCANNING 96 and SCANNING 97 meetings that took place in Monterey, California. The purpose of the symposium was to provide an interface between scientists and engineers, representatives of industry, government and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The meetings offered an ideal forum where ideas could easily be exchanged and where individuals from diverse fields who are on the cutting edge ofprobe microscopy research could communicate with one another. Experts in probe microscopy from around the world representing a wide range of disciplines including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, material science, etc., were invited to participate. The format of the meeting was structured so as to encourage communication among these individuals. During the first day's sessions papers were presented on general topics such as application of scanning probe microscopy in materials science; STM and scanning tunneling spectroscopy of organic materials; fractal analysis in AFM; and nanomanipulation. Other papers presented included unexpected ordering of a molecule; synthesis ofpeptides and oligonucleotides; and analysis oflunar soils from Apollo 11.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
