Defect recognition image processing (17 risultati)
Editore: Institute of Physics, 1998
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paperback. Condizione: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-02 Pages: 191 Publisher: Wuhan University Press This book addresses the practical problems and needs encountered in the radiographic inspection of welds in important fields such as nuclear power. chemical industry. and shipbuilding. Using digitized radiograph…ic images of weld seams as the research object. it solves problems such as automatic defect identification. image enhancement based on human vision. digital storage and retrieval of radiographic .
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (7th : 1997 : Templin, Germany); Donecker, J.; Rechenberg, I.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (7th : 1997 : Templin, Germany); Donecker, J.; Rechenberg, I.
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomo…geneities in complete silicon wafers. This .
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