Failure analysis integrated circuits (32 risultati)
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Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 1999
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Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 1999
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Editore: Springer, 2012
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Editore: Springer, 2012
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Editore: Springer, 2012
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Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 1999
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Editore: Springer, 2012
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr.…17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Editore: Chapman and Hall, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Condizione: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Edit…or(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . .
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Editore: Springer, 1999
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Condizione: gut. 1999. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) In englischer Sprache. pages.
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Editore: Springer, Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in i…ntegrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Editore: Springer, Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrat…ed circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Editore: Chapman and Hall, 1999
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Condizione: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Edit…or(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Editore: Springer, 2012
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Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 2012
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Editore: Springer, 2012
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Editore: Springer US Nov 2012, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Editore: Springer US Jan 1999, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause…of electrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.
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Editore: Springer US, 1999
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Editore: Springer US, 2012
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Editore: Springer, 1999
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Buch. Condizione: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Buch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 1999 | Springer | EAN 9780412145612 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heid…elberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Editore: Springer, Springer Jan 1999, 1999
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Editore: Springer, Springer Nov 2012, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical f…ailures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 272 pp. Englisch.
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Editore: Springer, 1999
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