Cheng yi kan (53 risultati)
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Soft cover. Condizione: New. Language:Chinese.Author:CONG CHENG DOU SHANG YE YIN HANG KAN JIE FANG QIAN JIN RONG YE JI XING.Binding.Publisher:Cultural and Historical Data Publishing (collection of books.
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Condizione: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibratio…n). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . .
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power an…alysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Electrothermal Analysis of VLSI Systems | Yi-Kan Cheng (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475773736 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Condizione: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibratio…n). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (includin…g power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power… analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Da: liu xing, Nanjing, JS, Cinaliu xing
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paperback. Condizione: New. Language:Chinese.Paperback. Publisher: People s Transportation.
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Da: liu xing, Nanjing, JS, Cinaliu xing
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paperback. Condizione: Good. The TCM Archive granted 1994.1.
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Da: liu xing, Nanjing, JS, Cinaliu xing
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EUR 37,32
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paperback. Condizione: Good. The TCM Archive granted 1994.2.
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paperback. Condizione: Good. The TCM Archive granted 1995.3.
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paperback. Condizione: Good. Collation of (for the Journal for college students).
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paperback. Condizione: New. Language:Chinese.Pages Number: 387 Publisher: Hunan Arts Pub. Date :2011-7-1. The book tells the story with 51 small and difficult to overcome the crisis. the final victory. Tough times do not last long. and strong people are able to always strong. Many others to follow suit money. job loss. or even r…educed household expenditure. Many people face life's challenges. or encounter natural disasters such as hurricanes and fire struck. Many people in the swing of life at the end. they all face the.
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EUR 58,27
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paperback. Condizione: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2018-05-01 Publisher: Southwest Jiaotong University Press. to meet the needs of rural road construction and development of Dayi. improve construction quality and service levels Dayi rural roads. according to control the West background of the new requirements. the… preparation group Dayi combined with the actual preparation of the on West control technical Guidelines for rural road construction Dayi County development strategy (trial). to promote Dayi coun.
