Khare jitendra b b (25 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.Zubal-Books, Since 1961
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
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Editore: Springer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
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Editore: Springer, 2011
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Hamelyn, Madrid, M, SpagnaHamelyn
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Condizione: Bueno. : A lo largo de los años, ha habido un gran aumento en la funcionalidad disponible en un solo circuito integrado. Esto se ha logrado principalmente mediante un impulso continuo hacia tamaños de características más pequeños, matrices más grandes y una mejor eficiencia de empaquetado. Sin embargo, esta mayor fun…cionalidad también ha resultado en aumentos sustanciales en la inversión de capital necesaria para construir instalaciones de fabricación. Dada una inversión tan alta, es fundamental para los fabricantes de circuitos integrados reducir los costos de fabricación y obtener un mejor retorno de su inversión. El método más obvio para reducir el costo de fabricación por matriz es mejorar el rendimiento de fabricación. La investigación e ingeniería modernas de VLSI (que incluyen el diseño, la fabricación y las pruebas) abarcan una gama muy amplia de disciplinas como la química, la física, la ciencia de los materiales, el diseño de circuitos, las matemáticas y la informática. Debido a esta diversidad, el campo de VLSI se ha fracturado en una serie de subdominios separados con poca o ninguna interacción entre ellos. Este es el caso de las relaciones entre las pruebas y la fabricación. De la contaminación a los defectos, las fallas y la pérdida de rendimiento: la simulación y las aplicaciones se centra en el núcleo de la interfaz entre la fabricación y las pruebas, es decir, la relación contaminación-defecto-falla. La comprensión de esta relación puede conducir a mejores soluciones de muchos problemas de fabricación y pruebas. Se desarrollan y presentan modelos de mecanismos de falla que se pueden utilizar para estimar con precisión la probabilidad de diferentes fallas para un circuito integrado dado. Esta información es fundamental para resolver aplicaciones clave relacionadas con el rendimiento, como el análisis de fallas, el modelado de fallas y la fabricación de diseños. EAN: 9781461285953 Tipo: Libros Categoría: Tecnología Título: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss Autor: Jitendra B. Khare Idioma: eng Páginas: 168.
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Editore: Springer, 1996
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Editore: Springer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer, 2011
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Editore: Springer, 1996
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Editore: Springer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Editore: Kluwer Academic Publishers, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 page…s, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . .
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Editore: Springer, 2011
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Editore: Springer US, 1996
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, t…his greater functionality has also resulted in substantial increases in the capital investment needed to build fabrication facilities. Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield. Modern VLSI research and engineering (which includes design manufacturing and testing) encompasses a very broad range of disciplines such as chemistry, physics, material science, circuit design, mathematics and computer science. Due to this diversity, the VLSI arena has become fractured into a number of separate sub-domains with little or no interaction between them. This is the case with the relationships between testing and manufacturing. From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, i.e., the contamination-defect-fault relationship. The understanding of this relationship can lead to better solutions of many manufacturing and testing problems. Failure mechanism models are developed and presented which can be used to accurately estimate probability of different failures for a given IC. This information is critical in solving key yield-related applications such as failure analysis, fault modeling and design manufacturing.
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Editore: Kluwer Academic Publishers, 1996
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 28 di 40. Libro 28 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
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Condizione: New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 page…s, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Editore: Springer, 2011
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Aggiungi al carrelloKluwer Academic Publishers, Boston, 1996. 150 pages, Paperback--- - former library book in good condition - 468 Gramm.
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Editore: Springer, 1996
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Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
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Editore: Springer, 2011
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Editore: Springer US, 1996
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Editore: Springer, 2011
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Buch. Condizione: Neu. From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss | Simulation and Applications | Jitendra B. Khare (u. a.) | Buch | Frontiers in Electronic Testing | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1996 | Springer | EAN 9780792397144 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Nature Customer Service Center…GmbH, Europaplatz 3, 69115 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss | Simulation and Applications | Jitendra B. Khare (u. a.) | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781461285953 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 He…idelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
