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sachdev manoj pineda de gyvez josé (24 risultati)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 14,92
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 22,95
Convertire valutaEUR 6,80 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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EUR 37,90
Convertire valutaEUR 105,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,70
Convertire valutaEUR 13,76 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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EUR 191,67
Convertire valutaEUR 7,65 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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EUR 191,67
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Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 203,28
Convertire valutaEUR 2,25 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 202,11
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 203,67
Convertire valutaEUR 2,25 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 202,51
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 226,26
Convertire valutaEUR 13,76 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 239,27
Convertire valutaEUR 2,25 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 239,68
Convertire valutaEUR 2,25 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 250,72
Convertire valutaEUR 10,50 per la spedizione da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 20. Weight in Grams: 669. . 2007. 2nd ed. 2007. Hardback. . . . .
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 280,00
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 283,49
Convertire valutaEUR 10,50 per la spedizione da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 18. Weight in Grams: 539. . 2010. Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007. paperback. . . . .
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 313,62
Convertire valutaEUR 8,95 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 20. Weight in Grams: 669. . 2007. 2nd ed. 2007. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 298,12
Convertire valutaEUR 28,72 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 300,69
Convertire valutaEUR 28,72 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 354,17
Convertire valutaEUR 8,95 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 18. Weight in Grams: 539. . 2010. Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 180,07
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
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EUR 180,07
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 296,33
Convertire valutaEUR 7,47 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 301,89
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 352.
