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China's Arms Acquisitions from Abroad: A Quest for "Superb and Secret Weapons" (SIPRI Research Reports)
Da: Bookmonger.Ltd, HILLSIDE, NJ, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Da: Gate City Books, GREENSBORO, NC, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. USED book in GOOD condition. Great binding, pages and cover show normal signs of wear from use.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In : A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing and Software Development
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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China's Arms Acquisitions from Abroad: A Quest for Superb and Secret Weapons: No. 11 (SIPRI Research Reports)
Da: WeBuyBooks, Rossendale, LANCS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 17,93
Spedizione EUR 6,62
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Most items will be dispatched the same or the next working day. A copy that has been read but remains in clean condition. All of the pages are intact and the cover is intact and the spine may show signs of wear. The book may have minor markings which are not specifically mentioned. A tan to the pages. Annotations to some page edges/pages, may include notes, highlighting or underlining.
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China's Arms Acquisitions from Abroad: A Quest for 'Supreb and Secret Weapons'
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 17,23
Spedizione EUR 11,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 176 pages. 8.75x5.50x0.75 inches. In Stock.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 18,68
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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International Money and Banking
Da: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 25,38
Spedizione EUR 24,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Gut. 384 Seiten ex Library Book aus einer wissenschaftlichen Bibliothek Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 469.
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EUR 21,60
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. KlappentextrnrnThe purposes of this research were: (1) the modeling of a CID situation and (2) the search for robust and controllable input variable settings. The inputs were defined as controllable and noise variables and the confusion matrices.
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EUR 25,32
Spedizione EUR 61,23
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - The purposes of this research were: (1) the modeling of a CID situation and (2) the search for robust and controllable input variable settings. The inputs were defined as controllable and noise variables and the confusion matrices in ROC theory were adapted to act as controllable factors. In this research a simple virtual battlespace representation is employed. The experimental results of the CID system are summarized by a posterior confusion matrix and throughout the confusion matrix analysis we can obtain all various types of data such as accuracy, error cost, error rates, and so forth. To find the optimal parameters three evaluation techniques were applied: (1) Linearly constrained discrete optimization, (2) Taguchi's S|N ratio method and (3) Robust parameter design with a combined array. The results are compared and contrasted across different objective functions.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 20,80
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 18,52
Spedizione EUR 4,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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International Money and Banking
Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,18
Spedizione EUR 12,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 121,67
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Electronic Circuits with MATLAB, PSpice, and Smith Chart
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,17
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 101,46
Spedizione EUR 28,97
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 124,25
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Affare
EUR 38,45
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 428 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The international market is very competitive for high-tech manufacturers to day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: ¿ the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in dustry, ¿ a study of the relationship between reliability and yield, ¿ the progression toward miniaturization and higher reliability, and ¿ the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.
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EUR 149,78
Spedizione EUR 2,60
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand new! Please provide a physical shipping address.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,31
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,31
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Applied Numerical Methods Using MATLAB
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 181,47
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Applied Numerical Methods Using MATLAB
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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EUR 147,84
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 229,18
Spedizione EUR 28,97
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 212,35
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 424.
