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high resolution x ray scattering thin (22 risultati)
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,49
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,44
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Libro 59 di 227: Springer Tracts in Modern PhysicsDa: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 25,70
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,08
Spedizione EUR 14,02
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,07
Spedizione EUR 17,56
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 31,48
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,12
Spedizione EUR 17,56
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 98,30
Spedizione EUR 14,02
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 95,52
Spedizione EUR 18,13
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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High-resolution X-ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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High-resolution X-ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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EUR 32,04
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 428 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 141,50
Spedizione EUR 14,02
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 143,49
Spedizione EUR 14,63
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 139,86
Spedizione EUR 29,27
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
EUR 100,94
Spedizione EUR 63,23
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Libro 59 di 227: Springer Tracts in Modern PhysicsDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 253,20
Spedizione EUR 29,27
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 84,50
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | Advanced Texts in Physics | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2004
ISBN 10: 0387400923 ISBN 13: 9780387400921
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 168,88
Spedizione EUR 22,00
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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