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transmission electron microscopy diffractometry materials di fultz brent james howe (20 risultati)
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 86,61
EUR 13,59 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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EUR 39,66
EUR 62,30 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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EUR 39,82
EUR 62,30 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 86,84
EUR 17,57 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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EUR 44,23
EUR 62,30 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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EUR 46,14
EUR 62,30 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Editore: Springer, 2007
Lingua: Inglese
Da: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
AffareEUR 21,84
EUR 105,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 121,66
EUR 13,59 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Da: brandnewtexts4sale, Houston, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: New. 3rd Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT 3rd Edition / shrink wrapped / Mint condition / ISBN-10: 3540738851 / Shipped out in one business day with free tracking.
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![Immagine dell'editore per Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. venduto da BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-it-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Editore: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Lingua: Inglese
Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,90
EUR 29,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 118,01
EUR 28,36 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 121,52
EUR 28,36 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 127,36
EUR 28,36 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 191,62
EUR 28,36 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Da: Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Lingua: Inglese
EUR 77,17
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. New edition of successful, well-reviewed textbook Provides an integrated coverage of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry Shows how wave radiation probes the structure of materials Supports learning and teaching .
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
Lingua: Inglese
EUR 107,09
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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