Joseph eric dale (41 risultati)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph,Joy, David C.,Newbury, Dale E.,Lifshin, Eric,Echlin, Patrick,Fiori, Charles
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph I. Goldstein,Dale E. Newbury,Patrick Echlin,David C. Joy,Charles Fiori,Eric Lifshin
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Lingua: Inglese
Editore: Hargrove Press, 2025
Serie: Chicago Stories, Libro 1 di 2. Libro 1 di 2 - Chicago Stories
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (Second Edition)
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig, Alton D. Jr.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Condizione: Very Good. Hardcover, [xviii], 820 pages. Very Good condition in a Good dust jacket. Second edition. Size 10.25"x7.5". "The authors, emphasizing the practical aspects of the techniques described, discuss user-controlled functions of scanning electron microscope and electron microprobe electron optics, the characteris…tics of electron-specimen interactions, image formation and interpretation, and x-ray spectrometry." Book has moderate handling/shelfwear. Previous owner's name on front fly. Binding is tight. Text is clean and unmarked. Dust jacket has edgewear and sunned spine.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists. 2nd Edition
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.
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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists and Geologists Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick and Joy, D. C.
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Jun 01, 1992. Condizione: gebraucht; wie neu. Hardcover mit Schutzumschlag, dieser mit minimalen Standspuren, Buch selbst ist ungebraucht, 2. Auflage.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno UnitoRarewaves.com USA
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Paperback. Condizione: New. Third Edition 2003. In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure…/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The ?eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and "through-the-lens" detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Condizione: New. pp. xix + 689 3rd Edition.
