Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
manoj sachdev (77 risultati)
Feedback
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (77)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (54)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (17)
- Molto buono o Buono (4)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (2)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (22)
- Non Print on Demand (60)
Lingua (2)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Editore: New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Lingua: Inglese
EUR 30,11
Convertire valutaGratis per la spedizione da Australia a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
-
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
Condizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 14,92
Convertire valutaEUR 92,02 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 47,98
Convertire valutaEUR 63,90 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
-
Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,60
Convertire valutaEUR 17,03 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
EUR 96,04
Convertire valutaEUR 25,54 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
-
EUR 96,04
Convertire valutaEUR 25,54 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
-
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,35
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
EUR 109,94
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
-
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
EUR 118,64
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Covers the latest research that has been carried on in the area of thermal and power management of integrated circuits with emphasis on performance and reliability of ICs at system and circuit levelNo book provides cohesive treatment of the materi.
-
Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,34
Convertire valutaEUR 17,21 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 134,85
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 142,04
Convertire valutaEUR 7,67 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 192.
-
EUR 65,69
Convertire valutaEUR 92,02 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,85
Convertire valutaEUR 63,90 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,18
Convertire valutaEUR 63,90 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Da: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 73,72
Convertire valutaEUR 92,02 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: As New. Ships Out Tomorrow!
-
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,48
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,48
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 167,85
Convertire valutaEUR 7,67 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 352 2nd Edition.
-
EUR 85,13
Convertire valutaEUR 92,02 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 170,30
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 170,30
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
EUR 156,86
Convertire valutaEUR 25,54 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 174,75
Convertire valutaEUR 10,15 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
-
Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced Cmos Technologies
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 170,28
Convertire valutaEUR 17,21 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
