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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,55
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,54
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
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EUR 272,82
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 146,12
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
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EUR 217,06
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
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EUR 231,97
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 144,94
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