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computed electron micrographs defect (7 risultati)
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EUR 5,84
Spedizione EUR 16,50
Spedito da Francia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1973. Tome 7. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1973. Volume 7. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Lingua: Inglese
Editore: North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
EUR 16,67
Spedizione EUR 23,12
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)
Lingua: Inglese
Editore: North Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
EUR 24,95
Spedizione EUR 15,72
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Da: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Regno Unito
Membro dell'associazione: PBFA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 9,53
Spedizione EUR 34,68
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHard Cover. Condizione: Good. No Jacket. First edition. From an academic library with the usual stamps etc.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 89,39
Spedizione EUR 14,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
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Computed electron micrographs and defect identification (Defects in crystalline solids, Volume 7)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 120,27
Spedizione EUR 28,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Computed electron micrographs and defect identification.
Editore: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
Da: Antiquariat Löcker, Wien, Austria
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA VDAO
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 29,00
Spedizione EUR 72,50
Spedito da Austria a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
