Dale lyman (78 risultati)

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Lingua: Inglese
Editore: Harold Rossiter Music Company, Chicago, 1926
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (Second Edition)
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig, Alton D. Jr.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Condizione: Very Good. Hardcover, [xviii], 820 pages. Very Good condition in a Good dust jacket. Second edition. Size 10.25"x7.5". "The authors, emphasizing the practical aspects of the techniques described, discuss user-controlled functions of scanning electron microscope and electron microprobe electron optics, the characteristics of electron-specimen interactions, image formation and interpretation, and x-ray spectrometry." Book has moderate handling/shelfwear. Previous owner's name on front fly. Binding is tight. Text is clean and unmarked. Dust jacket has edgewear and sunned spine.…

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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hardcover. Condizione: Very Good. 3rd. Third Edition; 2003. Glossy paper covers; minimal wear; stain on top edge, otherwise like new condition; 4to - over 9 3/4" to 12" tall; no jacket. Interior is bright, clean and unmarked; 690 pages. Additional shipping charges may be required due to the size and weight of book.…

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory Workbook
Lyman, Charles E.; Newbury, Dale E.; Goldstein, Joseph; Williams, David B.; Romig Jr., Alton D.; Armstrong, John; Echlin, Patrick; Fiori, Charles; Joy, David C.; Lifshin, Eric; Peters, Klaus-Rüdiger
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists. 2nd Edition
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Thy People Shall Be My People and Thy God My God: The 1993 Sperry Symposium on the Old Testament
Gaye Strathearn; M. Catherine Thomas; Thomas R. Valletta; Paul Y. Hoskisson [Editor]; Robert J. Matthews [Primary Contributor]; Terry Ball [Primary Contributor]; Frank F. Judd [Primary Contributor]; Jennifer Clark Lane [Primary Contributor]; E. Dale LeBaron [Primary Contributor]; D. Kelly Ogden [Primary Contributor]; Donald W. Parry [Primary Contributor]; Dana M. Pike [Primary Contributor]; J. Lyman Redd [Primary Contributor]; Andrew C. Skinner [Primary Contributor];
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hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.

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Paperback. Condizione: new. Paperback. Ambulatory Surgery Center Safety Guidebook: Managing Code Requirements for Fire & Life Safety Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.

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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists and Geologists Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick and Joy, D. C.
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Jun 01, 1992. Condizione: gebraucht; wie neu. Hardcover mit Schutzumschlag, dieser mit minimalen Standspuren, Buch selbst ist ungebraucht, 2. Auflage.

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Paperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 68 pages. 8.75x5.75x0.25 inches. In Stock.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Lingua: Inglese
Editore: Springer US, 2010
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 452 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This volume reviews and integrates the major advances in our understanding of the underlying molecular biology and pharmacology of hematopoietic growth factors in oncology. The results of well designed and executed randomized controlled trials are included.…

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
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Condizione: New. Illuminates the requirements of the Life Safety Code for ASCs for medical and other administrative staff who possess no code knowledge in the ASC setting Includes compliance requirements for the code, as well as requirements placed upon fa.
Altre immagini- Brossura
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno UnitoRarewaves.com USA
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Paperback. Condizione: New. Third Edition 2003. In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The ?eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and "through-the-lens" detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.…

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, J.R.
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Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
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Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory Workbook
Lyman, Charles E.; Newbury, Dale E.; Goldstein, Joseph; Williams, David B.; Romig Jr., Alton D.; Armstrong, John; Echlin, Patrick; Fiori, Charles; Joy, David C.; Lifshin, Eric; Peters, Klaus-Rüdiger
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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