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design for test test optimization techniques di noia brandon (13 risultati)
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EUR 96,05
Convertire valutaEUR 25,55 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,00
Convertire valutaEUR 10,39 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,85
Convertire valutaEUR 7,67 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design-for-test and Test Optimization Techniques for Tsv-based 3d Stacked Ics
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,51
Convertire valutaEUR 11,55 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 2014 edition. 274 pages. 9.50x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,60
Convertire valutaEUR 63,91 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 173,24
Convertire valutaEUR 11,55 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 264 pages. 9.25x6.10x0.62 inches. In Stock.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 167,77
Convertire valutaEUR 28,88 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 193,77
Convertire valutaEUR 7,67 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 263.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 196,33
Convertire valutaEUR 28,88 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Editore: Springer International Publishing, 2013
ISBN 10: 3319023772 ISBN 13: 9783319023779
Lingua: Inglese
EUR 89,99
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive guide to the challenges and solutions for the testing of TSV-based 3D stacked ICsIncludes in-depth explanation of key test and design-for-test technologies, emerging standards, and test- architecture and test-schedule opti.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Editore: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Lingua: Inglese
EUR 92,39
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive guide to the challenges and solutions for the testing of TSV-based 3D stacked ICsIncludes in-depth explanation of key test and design-for-test technologies, emerging standards, and test- architecture and test-schedule opti.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 196,13
Convertire valutaEUR 10,22 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 263.
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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 208,69
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 4 disponibili
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