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cmos sram circuit design di pavlov (18 risultati)
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Cmos Sram: Circuit Design And Parametric Test In Nano Scaled Technologies Process Aware Sram Design And Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books in my Basket, New Delhi, India
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 12,62
EUR 16,00 per la spedizione da India a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: New. ISBN:9788132202325.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: As New. Ships Out Tomorrow!
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Hardcover)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEditore: Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2008
ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Lingua: Inglese
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 156,36
EUR 13,56 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 156,36
EUR 13,56 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 168,23
EUR 3,46 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 168,57
EUR 3,46 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 156,35
EUR 16,98 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 174,14
EUR 16,98 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 107,78
EUR 105,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 107,78
EUR 105,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Hardcover)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEditore: Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2008
ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Lingua: Inglese
Da: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 236,92
EUR 32,06 per la spedizione da Australia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Hardcover. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 242,48
EUR 28,29 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 269,29
EUR 28,29 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 144,94
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 146,12
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling.
