Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
vlsi test principles architectures (15 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (15)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (10)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Molto buono o Buono (3)
- Discreto o Mediocre (1)
- Come descritto (1)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (3)
- Non Print on Demand (14)
Lingua (1)
Spedizione gratuita
- Spedizione gratuita in U.S.A. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
EUR 31,82
Convertire valutaEUR 3,23 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
EUR 31,82
Convertire valutaEUR 3,23 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 43,53
Convertire valutaEUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: good. Signs of wear and consistent use.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 16,00
Convertire valutaEUR 30,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: diakonia secondhand, München, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 40,66
Convertire valutaEUR 35,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
-
VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Editore: Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Lingua: Inglese
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 67,65
Convertire valutaEUR 17,78 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 79,76
Convertire valutaEUR 7,46 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777 Illus.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 102,45
Convertire valutaEUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 79,84
Convertire valutaEUR 28,70 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 99,15
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: BennettBooksLtd, San Diego, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,20
Convertire valutaEUR 5,99 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,97
Convertire valutaEUR 28,70 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
-
EUR 145,22
Convertire valutaEUR 3,71 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Editore: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Lingua: Inglese
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 232,96
Convertire valutaEUR 28,70 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. New. book.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 68,50
Convertire valutaEUR 13,50 per la spedizione da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
