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vlsi test principles architectures (14 risultati)
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Valutazione venditore
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Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. Signs of wear and consistent use.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 16,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Like New. hardcover. Page block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without markings of any kind. Supporting Bay Area Friends of the Library since 2010. Well packaged and promptly shipped.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: diakonia secondhand, München, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 40,66
Spedizione EUR 35,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 67,73
Spedizione EUR 17,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 78,56
Spedizione EUR 7,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777 Illus.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 79,93
Spedizione EUR 22,99
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxx + 777.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 99,24
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,11
Spedizione EUR 22,99
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 233,23
Spedizione EUR 28,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 68,50
Spedizione EUR 13,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
