Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
vlsi test principles architectures (18 risultati)
Feedback
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (18)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (2)
- Non Print on Demand (17)
Lingua (2)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 16,00
Convertire valutaEUR 10,00 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: diakonia secondhand, München, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 40,66
Convertire valutaEUR 12,00 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 80,11
Convertire valutaEUR 10,39 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777 Illus.
-
VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Editore: Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Lingua: Inglese
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 69,20
Convertire valutaEUR 23,48 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
-
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 81,67
Convertire valutaEUR 11,74 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 102,82
Convertire valutaEUR 7,79 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,46
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles & Architectures
Editore: Shree Publishers & Distributors, 2019
ISBN 10: 9385358421 ISBN 13: 9789385358425
Da: Books in my Basket, New Delhi, India
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 37,96
Convertire valutaEUR 16,50 per la spedizione da India a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloN.A. Condizione: New. ISBN: 9789385358425.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,61
Convertire valutaEUR 11,74 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: SGS Trading Inc, Franklin Lakes, NJ, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 120,54
Convertire valutaEUR 30,30 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. Textbook, May Have Highlights, Notes and/or Underlining, BOOK ONLYNO ACCESS CODE, NO CD, Ships with Emailed Tracking.
-
EUR 65,61
Convertire valutaEUR 93,48 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
EUR 65,61
Convertire valutaEUR 93,48 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,74
Convertire valutaEUR 38,09 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
EUR 150,33
Convertire valutaEUR 25,97 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
-
VLSI Test Principles and Architectures
ISBN 10: 9385358421 ISBN 13: 9789385358425
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 34,36
Convertire valutaGratis per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
VLSI TEST PRINCIPLES & ARCHITECTURES
Editore: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Lingua: Inglese
EUR 240,00
Convertire valutaEUR 17,50 per la spedizione da Spagna a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Usado - bueno.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Editore: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Lingua: Inglese
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 320,56
Convertire valutaEUR 29,36 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. New. book.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 68,50
Convertire valutaEUR 42,30 per la spedizione in ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
