Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
wang laung terng (33 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (33)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (4)
- Non Print on Demand (30)
Lingua (1)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)
Da: Greenworld Books, Arlington, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. Fast Free Shipping â" Good condition book with a firm cover and clean, readable pages. Shows normal use, including some light wear or limited notes highlighting, yet remains a dependable copy overall. Supplemental items like CDs or access codes may not be included.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 16,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. Signs of wear and consistent use.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Like New. hardcover. Page block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without markings of any kind. Supporting Bay Area Friends of the Library since 2010. Well packaged and promptly shipped.
-
Hardcover. Condizione: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: diakonia secondhand, München, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 40,66
Spedizione EUR 35,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
-
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume . (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann 2007-12-28, 2007
ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 63,95
Spedizione EUR 17,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
-
System-on-Chip Test Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 73,81
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxvi + 856 Illus.
-
VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 68,01
Spedizione EUR 17,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 78,08
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777 Illus.
-
-
Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann Publishers In 2008-12-05, 2008
ISBN 10: 0123743648 ISBN 13: 9780123743640
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 82,13
Spedizione EUR 17,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
-
System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,78
Spedizione EUR 23,08
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. illustrated edition. 896 pages. 9.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
-
Electronic Design Automation
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 93,04
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxv + 934 Illus.
-
System-on-Chip Test Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxxvi + 856.
-
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 80,26
Spedizione EUR 23,08
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
-
System-on-Chip Test Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 93,52
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxvi + 856.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 99,24
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
-
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume .
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, 2007
ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 79,97
Spedizione EUR 30,98
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,29
Spedizione EUR 23,08
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 972 pages. 9.40x7.40x1.80 inches. In Stock.
-
hardcover. Condizione: As New.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 84,71
Spedizione EUR 33,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
Electronic Design Automation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxxv + 934.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
Electronic Design Automation
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 116,03
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxv + 934.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,58
Spedizione EUR 23,08
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
-
Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, 2009
ISBN 10: 0123743648 ISBN 13: 9780123743640
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,36
Spedizione EUR 42,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 234,20
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
